Exàmens PAU Tecnologia Industrial (molts resolts) de Catalunya (anys 1999-2009)

Posted by xarxatic on jun 2, 2010 | 1 comment

Per correu electrònic, m’ha arribat la petició de molts alumnes de Catalunya de si podia penjar a la xarxa els exàmens de les diferents matèries de modalitat que s’imparteix des dels Departaments de Tecnologia dels centres, és a dir, Electrotècnia i Tecnologia Industrial.

Doncs bé, en aquesta entrada faré referència a la modalitat de Tecnologia Industrial, però abans de res poso l’enllaç a la pàgina web on ens informen de les PAU, una pàgina imprescindible de llegir-nos i tenir sempre a mà, si som alumnes que ens presentem a les PAU a Catalunya, sigui per aquesta matèria o per qualsevol altra.

A més dels exàmens d’altres anys, també us penjaré un bon material elaborat per Xavier Rosell, amb preguntes tipus test, un entrenador i diverses qüestions per posar-te a prova per aquesta cita tan important.

Exàmens de Selectivitat de Tecnologia Industrial

• Setembre 2009 enunciats – sol·lució
• Juny 2009 enunciats – solució
• Setembre 2008 enunciats – solució
• Juny 2008 enunciats – solució
• Setembre 2007 enunciats – solució
• Juny 2007 enunciats – solució
• Setembre 2006 enunciats – solució
• Juny 2006 enunciats – solució
• Setembre 2005 enunciats – solució
• Juny 2005 enunciats – solució
• Setembre 2004 enunciats – solució
• Juny 2004 enunciats – solució
• Setembre 2003 enunciats – solució
• Juny 2003 enunciats – solució
• Setembre 2002 enunciats – solució
• Juny 2002 enunciats – solució
• Setembre 2001 enunciats – solució
• Juny 2001 enunciats – solució
• Setembre 2000 enunciats – solució
• Juny 2000 enunciats – solució
• Setembre 1999 enunciats – solució
• Juny 1999 enunciats – solució

Entrenador TEST

Aquest entrenador és una eina informàtica adreçada als estudiants de batxillerat que té com a objectiu ajudar-los a comprovar el seu grau de coneixement de la matèria de Tecnologia Industrial. Aquest aplicatiu facilita l’autoavaluació i ajuda a l’estudi.

Podeu accedir a aquest entrenador fent clic aquí.

Posa’t a prova

Posa’t a prova és una oferta educativa de tests interactius, dissenyats pel Departament d’Educació i d’Universitats, amb qüestions de diferents matèries de les PAU, per incentivar l’estudi i l’autoavaluació. Hi ha disponible el test per a Tecnologia Industrial i per a Electrotècnia, només canviant la selecció al caixetí desplegable de la dreta.

I finalment, com a material també molt bo, diferents qüestions tipus test de la matèria, emmarcades en dos àmbits diferents: un àmbit general de la matèria i un, orientat a la part d’organització industrial que es dóna en la matèria.

Qüestions tipus Test

• Relacionades amb la part general de Tecnologia Industrial
• Relacionades amb la part d’Organització Industrial (de la qual darrerament sempre posen alguna coseta)

Finalment només desitjar-vos molta sort, i tornar a agraïr el bon recull que ha fet Xavier Rossell, gràcies al qual us he pogut penjar fàcilment tots aquestos recursos i material esmentat anteriorment.

Estructura de la nova Selectivitat 2010

Posted by xarxatic on mai 24, 2010 | 0 comments

Una de les grans preguntes que tenen els alumnes de segon de Batxillerat aquestos dies és: com serà la nova prova d’accés a la Universitat? Una pregunta repetida contínuament, i que en tots els centres se’ls hi intenta donar resposta. Doncs bé, aquesta entrada va per aclarir una mica les novetats que hi haurà aquest any 2010, i algunes matisacions importants que s’han de tenir en compte.

Doncs bé, aquest any la Selectivitat tindrà dues fases:

Fase General

On es realitzaran 4 exàmens (5 si hi ha llengua cooficial en la Comunitat Autònoma), que seran els següents:

• Llengua castellana i literatura
• Llengua estrangera (a elecció de l’alumne), que en aquest any no portarà cap prova d’expressió oral
• Història o Filosofia (a elecció de l’alumne)
• Una matèria de la modalitat de Batxillerat elegida per l’alumne (Arts, Ciències i Tecnologia o Humanitats i Ciències Socials)

S’aprova a l’obtenir una nota igual o major de 5, com a resultat de la mitjana del 60% de la nota del Batxillerat i d’un 40% de la qualificació de la fase general, sempre i quan, aquesta sigui superior a 4.

Fase específica

Consta d’exàmens sobre matèries de modalitat que estiguin relacionats amb la rama del coneixement de la titulació a la qual vulguem accedir.

• L’alumne decideix quants exercicis realitza, fins un màxim de 4 (a Catalunya sembla que estiguin incomplint la llei, ja que en la seva web diu que tan sols podran examinar-se de 3 matèries de modalitat, i es farà la mitjana entre les tres). Només comptaran les dues notes més altes, per la qual cosa es recomanable presentar-se als 4 exercicis.

Aquesta fase específica pot fer pujar la nota fins a quatre punts, el que vol dir que a la Selectivitat es pot sortir fins un 14 de nota, a la qual després s’hi ha de fer la mitjana amb la nota de Batxillerat.

Per la qual cosa, si voleu entrar a una carrera on no hi hagi massa nota de tall podeu fer només la fase general, restant l’específica per als alumnes que vulgueu entrar en carreres o facultats amb notes de tall elevades (això només és un consell, però penseu-s’ho bé ja que s’ha de tenir també en compte, que per primer cop els alumnes d’un CFGS no tindran cupos en l’accés a les Universitats, per la qual cosa entraran a competir directament amb els alumnes de Batxillerat).

I sense més que recordar-vos els dies que es faran les proves per CC.AA. finalitzo aquest article.

Dates en què es realitzaran les proves de Selectivitat

• Madrid. 7, 9 i 10 de juny
• Aragó, Catalunya i Balears. 8, 9 i 10 de juny (si es confirma la vaga de funcionaris, seran 9, 10 i 11 de juny)
• Comunitat Valenciana, País Basc i Navarra. 9, 10 i 11 de juny
• Cantàbria. 10, 11 i 14 de juyn
• Castella-Lleó, Múrcia i Castella-La-Manxa. 14, 15 i 16 de juny
• Astúries i Extremadura. 15, 16 i 17 de juny
• Andalusia, Canàries, La Rioja, Ceuta i Melilla. 15, 16, 17 i 18 de juny
• Galícia. 16, 17 i 18 de juny

-

Estructura de l’examen i Criteris d’avaluació de les PAU de Tecnologia Industrial (2009/2010) a Catalunya

Posted by xarxatic on mai 15, 2010 | 0 comments

Com ja es van apropant les dates de les proves de Selectivitat, intentaré anar penjant material sobre les matèries de l’àrea de Tecnologia, per tal que pugueu anar preparant aquestes temudes proves. Us penjaré tot el què vagi trobant per la xarxa que us pugui interessar, entre això, les Estructures d’examen i els Criteris d’avaluació, de Tecnologia Industrial que entren a Selectivitat, obtingut directament de fonts oficials (el Departament d’Innovació, Universitats i Recerca de la Generalitat de Catalunya).

Estructura de l’examen

Cada examen consta de dues parts de dos exercicis cadascuna.

• La primera part (dos exercicis) és comuna i tindrà una puntuació total entre 4 i 6 punts.
• La segona part (dos exercicis) té dues opcions (A i B), entre les quals cal triar-ne una.

Exercicis

• El primer exercici de la primera part estarà format per 5 qüestions amb 4 respostes cadascuna de les quals només una serà bona. No es podrà triar més d’una resposta per qüestió.
• La resta d’exercicis seran, en general, més de tipus resolutiu (“Determineu…”, “Representeu…”) que expositiu (“Expliqueu…”, “Raoneu…”), i sovint es demanaran resultats numèrics. Les dades numèriques aniran sempre expressades en unitats del Sistema Internacional amb els múltiples i submúltiples corresponents.

Puntuació

• Cada qüestió del primer exercici de la primera part ben contestada tindrà un valor de 0,5 punts, mal contestada -0,16 punts i no contestada 0 punts.

La resta d’exercicis es puntuaran entre 1,5 i 3,5 punts en funció de la seva dificultat i extensió. Dins de cada exercici podrà haver-hi diferents apartats amb la seva puntuació explícita compresa entre 0,5 i 1,5 punts.

• Valorar el coneixement de conceptes i lèxic bàsics de la matèria. (Es fa usualment de manera implícita amb la correcta interpretació dels enunciats: “L’energia consumida per una bomba de calor…”, “El carro portaeines d’un torn avança…”.).
• Valorar la capacitat d’aplicar els models matemàtics a l’anàlisi de situacions i artefactes relacionats amb aspectes bàsics i simples de la tecnologia. Uns i altres es presenten de manera que es puguin analitzar correctament per mitjà de models algèbrics. (Cal entendre, però, l’existència dels models diferencials.).
• Valorar la capacitat d’arribar a resultats concrets amb les unitats correctes: valors numèrics, gràfics, esquemes, etc.

Aspectes a considerar en l’avaluació

• Si es considera que un apartat es divideix en plantejament (“Tenim…”, “Es demana…”), desenvolupament (“L’aplicació del teorema amb aquesta hipòtesi permet…”) i resolució (“A l’expressió del teorema es substitueix… i simplificant s’obté…”) fins arribar al resultat, per obtenir puntuació de l’apartat cal presentar de manera endreçada i intel•ligible el desenvolupament. (Un resultat es desestima si no s’indica la procedència, però no s’ha de copiar o recrear l’enunciat.).
• Per obtenir la màxima puntuació cal, on sigui aplicable: Arribar al resultat numèric correcte amb unitats correctes (del Sistema Internacional amb els múltiples i corresponents). Presentar els gràfics indicant les escales amb unitats correctes. Presentar els esquemes, diagrames de blocs, etc. sense ambigüitats.
• Es valoren positivament la pulcritud, concisió, precisió i claredat en la presentació. És bo fer a part i separar esborranys, càlculs previs, etc., del desenvolupament i resolució que es donen per bons. Aquests, en general, només cal que incloguin comentaris concisos (“Suposant el frec negligible s’obté…”).

Per altra banda:

• Es penalitzen fortament de manera que poden arribar a anul•lar la puntuació en un apartat: Els errors dimensionals i conceptuals en els raonaments.
  Els resultats sense unitats o expressats en unitats no pertanyents al Sistema Internacional amb els múltiples i submúltiples corresponents.
• Els errors numèrics que portin a resultats raonables (p.ex. dins de l’ordre de magnitud del resultat correcte) només es penalitzen lleument. Altres errors numèrics, com per exemple un canvi de signe, poden arribar a ser considerats errors conceptuals (p.ex. una pressió absoluta negativa).

En preguntes encadenades no es penalitzen els errors derivats dels resultats anteriors, sempre i quan prendre aquests com a dades no representi un error conceptual i els resultats que se’n derivin siguin raonables.

El document de “Orientacions per a l’examen de tecnologia industrial” d’aquesta matèria es troba en format PDF en el document annex.

Orientacions per a l’examen de tecnologia industrial (32 Kb)